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We have been implemented simple statistical pattern recognition methods for harmful gases classification using gas
sensors array fabricated by MEMS (Micro Electro Mechanical System) technology. The performance of pattern recognition
method as a gas classifier is highly dependent on the choice of pre-processing techniques for sensor and sensors array
signals and optimal classification algorithms among the various classification techniques. We carried out pre-processing
for each sensor’s signal as well as sensors array signals to extract features for each gas. We adapted simple statistical
pattern recognition algorithms, which were PCA (Principal Component Analysis) for visualization of patterns clustering
and MLR (Multi-Linear Regression) for real-time system implementation, to classify harmful gases. Experimental results
of adapted pattern recognition methods with pre-processing techniques have been shown good clustering performance and
expected easy implementation for real-time sensing system.
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C. K. KiM / 1999 / Hydrogen sensing characteristics of Pd-SiC Schottky diode operating at high temperature / J. of Electronic. Materials 28 (3) : 202 ~ 205
G. S. Chung / 2007 / Electrical characteristics of polycrystalline 3C-SiC thin film diodes / J. Kor. Sensors Soc 16 (4) : 259 ~ 262
G. S. Chung / 2007 / Growth of polycrystalline 3C-SiC thin films for M/NEMS applications by CVD / J. Kor. Sensors Soc 16 (2) : 85 ~ 90
H. J Im / 1998 / Ballistic electron emission microscopy study of schottky contacts on 6H- and 4H-SiC / Appl. Phys. lett 72 (7) : 839 ~ 841
K. S. Kim / 2008 / Mechanical properties of polycrystalline 3C-SiC thin films with various doping concentrations / J. Kor. Sensors Soc 17 (4) : 256 ~ 260
G. S. Chung / 2007 / Electrical characteristics of polycrystalline 3C-SiC thin film diodes / J. Kor. Sensors Soc 16 (4) : 259 ~ 262
G. S. Chung / 2007 / Growth of polycrystalline 3C-SiC thin films for M/NEMS applications by CVD / J. Kor. Sensors Soc 16 (2) : 85 ~ 90
H. J Im / 1998 / Ballistic electron emission microscopy study of schottky contacts on 6H- and 4H-SiC / Appl. Phys. lett 72 (7) : 839 ~ 841
K. S. Kim / 2008 / Mechanical properties of polycrystalline 3C-SiC thin films with various doping concentrations / J. Kor. Sensors Soc 17 (4) : 256 ~ 260
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