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논문 기본 정보

자료유형
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저자정보
저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제4권 제4호
발행연도
2003.1
수록면
26 - 29 (4page)

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To discover electrical properties of individual single wall nanotube(SWNT), a number of SWNT-based tubeFETs have been fabricated. The device consists of a single semiconducting SWNT on an insulating substrate, contacted at each end by metal electrodes. It presents high transconductances, and charge storage phenomenon, which is the operations of injecting electrons from the nanotube channel of a tubeFET into charge traps on the surface of the SiO2 gate dielectric, thus shifting the threshold voltage. This phenomenon can be repeated many times, and maintained for the hundreds of seconds at room temperature. We will report this phenomenon as the memory effects of the SWNT, and attempt to use this property for the memory device.
#carbon nanotube #memory effects #SWNT #tubeFET #electron beam lithography

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