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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제44권 제4호
발행연도
2014.1
수록면
138 - 143 (6page)

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Transmission electron microscope (TEM) is an excellent tool for studying the structure and properties of nanostructured materials. As the development of Cs-corrected TEM, the direct analysis of atomic structures of nanostructured materials can be performed in the high-resolution transmission electron microscopy (HRTEM). Especially, fast Fourier transform (FFT) technique in image processing is very useful way to determine the crystal structure of HRTEM images in reciprocal space. To apply FFT technique in HRTEM analy-sis in more reasonable and friendly manner, we made a new circular region of interest (C-ROI) FFT script and tested it for several HRTEM analysis. Consequentially, it was proved that the new FFT application shows more quantitative and clearer results than conventional FFT script by removing the streaky artifacts in FFT pattern images. Finally, it is expected that the new FFT script gives great advantages for quantitative interpretation of HRTEM images of many nanostructured materials.
#Fourier transformation #Circular region of interest #High-resolution trans-mission electron microscopy #Electron crystallography #Image processing

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/ / EM-MUNU 4.0 BASIC-Advanced TEM image processing package google schola / / iTEM solutions google schola Galicia R / 2013 / A program for phase identification using diffractograms obtained from TEM structure images / Rev. Mex. Fis 59 : 102 ~ 106 google schola Kogure T / 2008 / Application of optimum HRTEM noise filters in mineralogy and related sciences / Microsc. Anal 22 : S11 ~ S14 google schola Mitchell D R G / 2005 / Scripting-customised microscopy tools for Digital MicrographTM / Ultramicroscopy 103 : 319 ~ 332 google schola

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