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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2020.1
- 수록면
- 29 - 36 (8page)
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웨어-레벨링과 오류정정코드는 플래시 메모리의 신뢰성과 내구성을 위한 필수적인 기술이다. 플래시 메모리를 구성하는 요소들은 사용횟수에 따른 노화도가 서로 다를 수 있다. 따라서 기존의 쓰기/지우기 횟수를 바탕으로 하는 웨어-레벨링 기술은 요소들의 실제 노화도 차이를 반영하기에 충분하지 않다. 본 논문에서는 높은 오류정정율이 증명된 Low-Dencity Parity-Check (LDPC) 코드를 적용하고 복호 과정에서 나오는 정보를 이용하여 플래시 메모리의 실제 노화도를 측정하는 방법을 소개한다. 실험에서는 실제 플래시 메모리를 대상으로 측정한 오류율 데이터를 기반으로 LDPC 코드 복호 정보가 플래시 메모리 각 블록의 노화도를 나타낼 수 있음을 보인다. 또한, 웨어-레벨링 시뮬레이션을 통하여 제안하는 노화도 측정 방법 기반의 웨어-레벨링의 효과를 입증한다.
목차
[Abstract]
[요약]
Ⅰ. Introduction
Ⅱ. Background
Ⅲ. Proposed Scheme
Ⅳ. Experimental Results
Ⅴ. Conclusions
REFERENCES
참고문헌 (19)
참고문헌 신청
R. Micheloni / 2008 / Error Correction Codes for Non-Volatile Memories / Springer
J. C. Moreira / 2006 / Essentials of Error–Control Coding / John Wiley and Sons
R. G. Gallager / 1962 / Low Density Parity Check Codes / IRE Transactions on Information Theory 8(1):21~28
G. Dong / 2011 / On the Use of Soft-Decision Error-Correction Codes in NAND Flash Memory / IEEE Transactions on Circuits and Systems I 58(2):429~439
J. Kim / 2014 / Rate-0. 96 LDPC Decoding VLSI for Soft-Decision Error Correction of NAND Flash Memory / IEEE Transactions on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems 22(5):1004~1015
J. C. Moreira / 2006 / Essentials of Error–Control Coding / John Wiley and Sons
R. G. Gallager / 1962 / Low Density Parity Check Codes / IRE Transactions on Information Theory 8(1):21~28
G. Dong / 2011 / On the Use of Soft-Decision Error-Correction Codes in NAND Flash Memory / IEEE Transactions on Circuits and Systems I 58(2):429~439
J. Kim / 2014 / Rate-0. 96 LDPC Decoding VLSI for Soft-Decision Error Correction of NAND Flash Memory / IEEE Transactions on Very Large Scale Integration(VLSI)Systems 22(5):1004~1015
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