메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
Jin-Taek Seong (Mokpo National University)
저널정보
한국정보전자통신기술학회 한국정보전자통신기술학회 논문지 한국정보전자통신기술학회 논문지 제13권 제2호
발행연도
2020.4
수록면
95 - 101 (7page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
In this paper, we consider a group testing (GT) framework which is to find a set of defective samples out of a large number of samples. To handle this framework, we propose a maximum product detection algorithm (MPDA) which is based on maximum a posteriori probability (MAP). The key idea of this algorithm exploits iterative detection to propagate belief to neighbor samples by exchanging marginal probabilities between samples and output results. The belief propagation algorithm as a conventional approach has been used to detect defective samples, but it has computational complexity to obtain the marginal probability in the output nodes which combine other marginal probabilities from the sample nodes. We show that the our proposed MPDA provides a benefit to reduce computational complexity up to 12% in runtime, while its performance is only slightly degraded compared to the belief propagation algorithm. And we verify the simulations to compare the difference of performance.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Related Work
3. Group Testing Framework
4. Detection of Defective Samples
5. Conclusion
REFERENCES

참고문헌 (9)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0