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저자정보
Choi, Joon-Young (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) An, Jung-Soo (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Kim, Hun-Hee (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Lee, Ho-Jun (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Lee, Hea-Jun (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Kim, Dong-Hyun (Department of Electrical Engineering, Pusan National University) Park, Chung-Hoo (Department of Electrical Engineering, Pusan National University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
164 - 170 (7page)

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Misfiring is often observed during the high temperature quality assurance test of plasma display panel. This limits the productivity of PDP industry. In this paper, experimental observations on the misfiring at high panel temperature have been performed through time dependent discharge light output and static margin measurement. For the high temperature condition, firing voltage increment is found in both surface and facing discharges. This in turn increases time lag in address discharge, and results in increment of misfiring probability. In order to reduce this kind of misfiring, a new method that applies automatically different slope of ramp erasing pulse on the common electrode according to temperature variation is proposed. The experimental results show that controlling the slope of ramp erasing pulse is quite effective for compensating temperature-dependent variation of reset and address discharge.

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