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저자정보
Jang, Soo-Kwan (School of Electrical Engineering and Computer Science Kyungpook National University) Tae, Heung-Sik (School of Electrical Engineering and Computer Science Kyungpook National University) Jung, Eun-Young (R&D Team, PDP Division, Samsung SDI co. Ltd) Ahn, Jung-Chull (R&D Team, PDP Division, Samsung SDI co. Ltd) Yoo, Min-Sun (R&D Team, PDP Division, Samsung SDI co. Ltd)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2008년도 International Meeting on Information Display
발행연도
2008.1
수록면
412 - 415 (4page)

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It is known that the address discharge delay time during an address period strongly depends on the wall charge leakage. It was observed that the wall charge leakage during an address period is related to both the address width and the ambient temperature. Accordingly, the effects of address electrode width on the address discharge and wall voltage variation during an address period were examined under variable temperatures.
#address discharge #wall charge leakage #ambient temperature #address electrode width

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