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Choi, Seung-Ho (Department of Molecular Science and Technology, Ajou University) Lee, Soon-Il (Department of Molecular Science and Technology, Ajou University) Oh, Soo-Ghee (Department of Molecular Science and Technology, Ajou University) SunWoo, Jin-Ho (Orion Electric Co. Ltd.) Kim, Jae-Gak (Orion Electric Co. Ltd.) Lee, Gol-Hee (Orion Electric Co. Ltd.) Kim, June-Dong (Orion Electric Co. Ltd.)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 학술대회 한국정보디스플레이학회 2000년도 제1회 학술대회 논문집
발행연도
2000.1
수록면
185 - 186 (2page)

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For the quantitative investigation of the erosion of MgO layers in real ac-PDP cells, we constructed a microscopic spectrophotometer which is capable of measuring transmission spectra from the area as small as 20 ${\times}$ 20 ${\mu}m^2$. In the test on the sputtered MgO films with a thickness gradient, we were able to probe the thickness variation of 1000 nm over $1000-{\mu}m$ distance. Using this instrument, we were able to determine not only the erosion rate at the particular position of ac-PDP cells but also the relative erosion rate at different positions in a single ac-PDP cell.

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