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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
전홍신 (경희대학교 기계공학과) 김경훈 (경희대학교 기계공학과)
저널정보
한국분무공학회 한국액체미립화학회지 한국액체미립화학회지 제2권 제4호
발행연도
1997.1
수록면
29 - 35 (7page)

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Liquid film thickness is measured by $moir\acute{e}$ topography which monitored liquid surface. $Moir\acute{e}$ fringe measurement techniques share the inherent simplicity found in optical interferometric techniques have the advantage of use over a greater range of displacement. $Moir\acute{e}$ fringe are the geometric interference patterns observed when two dense line grating are superposed. Light transmitted through a fixed line grating is deviated by the liquid film surface, producing a distored image of the grating. The $moir\acute{e}$ fringe produced by projection of this optically distored grating onto a second stationary grating permit visualization of the liquid surface and measurement of the liquid film thickness. This study measured the small amplitude of liquid film thickness to the $moir\acute{e}$ fringe pattern produced when spherical metal was dropped glycerin put)1 And the measurement of liquid film thickness flowing down an inclined plate are required to calculate the liquid slope in a position.
#모아레 무늬 #측정기술 #액막 #변위 측정 #$Moiracute{e}$ #Measurement Technique #Liquid Film #Disturbance Measurement

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