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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
박용수 (충청대학 전자과) 유흥균 (충북대학교 전자공학과)
저널정보
한국정보기술전략혁신학회 정보학연구 정보학연구 제2권 제2호
발행연도
1999.1
수록면
235 - 250 (16page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

1999

VLSI 소자의 핀간 DC 파라메터 테스트 모델링 연구
박용수 ,  송한정 ,  황금주 외 2명 대한전자공학회 학술대회 1999.06 학술대회자료
통신용 VLSI 소자의 새로운 편간 DC 파라메터 테스트 연구
박용수 ,  유흥균 정보학연구 1999.01 학술저널

초록· 키워드

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디지털 VLSI 소자 테스트는 소자 규격서에 정의 된 파라메터들을 최악의 환경 상태에서 소자가 설계된 기능들이 모두 동작하는 지를 보증하는 것이다. 통신용 VLSI 소자의 고집적화에 따른 제품의 신뢰성을 향상하는 것이 VLSI 소자 테스트에서 중요한 고려사항이 된다. 통신용 소자의 신뢰성 향상을 위해서 테스트 파라메터들이 증가되고 테스트 시간이 늘어난다. 데스트 종류는 크게 펑션 데스트, DC 파라메터 테스트 및 AC 파라메터 테스트로 나눌 수 있다 소자의 특성과 신뢰성을 분석하는 기존의 데스트 항목들 중에는 핀간 단락 또는 핀간 누설저항을 테스트하는 항목들이 없다. 본 논문은 핀간 현상을 모델링하고 현재의 DC 파라메터 테스트 방법을 수정하고 새로운 핀간 DC 파라메터들을 테스트하는 방법을 제안한다. 실제로 제품 테스트를 통해 테스트 방법의 수정과 추가에 따른 제품 테스트의 신뢰성 향상을 확인하였다.

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