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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
김규태 (한국표준과학연구원 전기자기그룹) 홍현권 (충북대 대학원 전자공학과) 이규원 (한국표준과학연구원 초전도그룹 책임연구원)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제4권 제1호
발행연도
2002.1
수록면
1 - 3 (3page)

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Single Josephson junctions, which are of cross type, of $50 ${\mu}{\textrm}{m}$ {\times} 50 ${\mu}{\textrm}{m}$$</TEX> were fabricated under several oxidation conditions to Investigate controllabilities of critical current density (Jc) with the standard KRISS processes. Considering that the self-field effect suppresses the observed critical current (Ice) at high Jc region, we could reasonably estimate Jc values from I-V observations. The dependence of the obtained Jc as a function of exposure, which is equal to pressure (P) times time (t), was well fitted to a curve of Jc ~ (Pt)-0.34. The maximum Jc value at the controllability margin was found to be 3 kA/cm$^2$with the current equipment set up.

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