Resistance Distribution in Thin Film Type SFCL Elements with Shunt Layers of Different Thicknes

Kim, Hye-Rim; Hyun, Ok-Bae; Lee, Seung-Yup; Yu, Kwon-Kyu; Kim, In-Seon

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자료유형: 학술저널

저자정보: Kim, Hye-Rim (New Technology Research Center of Korea Electric Power Research Institute) Hyun, Ok-Bae (New Technology Research Center of Korea Electric Power Research Institute) Lee, Seung-Yup (Dept.of Inorganic Materials Engineering, Kyungpook National University) Yu, Kwon-Kyu (Dept. of Electromagnetic Metrology, Korea Reserch Institute of Standards and Science) Kim, In-Seon (Dept. of Electromagnetic Metrology, Korea Reserch Institute of Standards and Science)

저널정보: 한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제5권 제2호

발행연도: 2003.1

수록면: 41 - 45 (5page)

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Resistance distribution in thin film type SFCL elements of different shunt layer thickness was investigated. The 300 nm thick film of 2 inch diameter was coated with a gold layer and patterned into 2 mm wide meander lines. The shunt layer thickness was varied by ion milling the shunt layer with Ar ions, and also by having the shunt layer grown in different thickness. The SFCL element was subjected to simulated AC fault current for measurements. It was immersed in liquid nitrogenduring the experiment. The resistance distribution was not affected by the shunt layer thickness at applied voltages that brought the temperature of the elements to similar values. This result could be explained with the concept of heat transfer from the film to the surroundings. The resistance distribution was independent of the shunt layer thickness because thick sapphire substrates of high thermal conductivity dominated the thermal conductance of the elements.

#fault current limiter #superconducting #quench #YBa2Cu3O7

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