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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
양수화 (한양대학교 전자통신전파공학과) 김형동 (한양대학교 전자전기공학부)
저널정보
한국음향학회 한국음향학회지 한국음향학회지 제22권 제6호
발행연도
2003.1
수록면
496 - 504 (9page)

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본 논문에서는 유전자 알고리즘을 이용하여 빔 패턴 오차의 허용범위를 만족하는 개별소자의 허용오차를 분석하였다. 기존의 수치적 통계방법은 배열소자의 개수증가에 따라 계산량이 증가하는 문제점이 있고 이를 보완하기 위해 제안된 Monte-Carlo 방법은 낮은 정밀도와 빔 패턴 합성으로의 확장이 어렵다는 한계점을 가지고 있어 본 논문에서는 이러한 단점을 극복하기 위해 유전자 알고리즘을 이용한 소나 배열 소자의 허용오차 분석법을 제안하였다. 제안된 알고리즘을 이용하여 1차원과 2차원 배열에서 주어진 빔 패턴 오차 허용범위를 만족하는 각 소자별 허용오차 범위를 분석하였고 모의실험을 통하여 소나 배열 소자의 허용오차 범위가 타당함을 검증하였다.
#유전자 알고리즘 #빔패턴 허용오차 #개별소자 허용오차 #Genetic algorithm #Error tolerance of beam pattern #Error tolerance of array element

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