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학술대회자료
저자정보
Jeoung, S.J. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Lee, H.J. (Samsung SDI) Son, C.G. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Kim, J.H. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Park, E.Y. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Hong, Y.J. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) You, N.L. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Lee, S.B. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Han, Y.G. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon University) Jeoung, S.H. (Charged Particle Beam & Plasma Lab. PDP Research Center Department of Electro physics, Kwangwoon Universit) Song, K.B. Moon, M.W. Oh, P.Y. Choi, E.H.
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
발행연도
2006.1
수록면
906 - 909 (4page)

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The secondary electron emission coefficient $({\gamma})$ of the cathode is an important factor for improving the discharge characteristics of AC-PDPs because of its close relationship to discharge voltage. In AC-PDPs, MgO is most widely used as a surface protective layer. In this experimental, we have investigated the electronic structure of the energy band structure of the MgO layer responsible for the high ${\gamma}$. The MgO layers have been deposited by electron beam evaporation method, where the $O_2$ partial pressures have been varied as 0, $5.2{\times}10^{-5}$ torr, $1.0{\times}10^{-4}$ torr, and $4.1{\times}10^{-4}$ torr, in this experiment. It is noted that work function that is energy gap between surface and first defect level of MgO layer has the lowest value for the highest O2 partial pressure of $4.1^{\ast}10^{-4}$ Torr.

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