The Reliability Test of Sealing Glass Frit in AC PDP

Jeon, Young-Hwan; Hwang, Jong-Hee; Lim, Tae-Young; Kim, Hyung-Sun

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저자정보: Jeon, Young-Hwan (Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology, Department of Ceramic Engineering , Yonsei University) Hwang, Jong-Hee (Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology) Lim, Tae-Young (Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology) Kim, Hyung-Sun (School of Materials Engineering, Inha University)

저널정보: 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2005년도 International Meeting on Information Displayvol.II

발행연도: 2005.1

수록면: 1,538 - 1,541 (4page)

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For reliability evaluation of AC-PDP, one of the most important factor is sealing property. In this paper, the reliability evaluation test method of the commercialized sealing glass frit in AC-PDP was studied. 6 inch AC-PDP panels were tested for evaluation of sealing glass frit by vibration shock test, thermal shock test, non -destructive X-ray inspection, residual stress inspection and residual gas detection. These test methods are proposed as a standard for testing the reliability of sealing glass frit. The main failure mode of sealing glass frit in AC-PDP seems to be the crack propagation from thermal cycling rather than mechanical factor.

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Jeon, Young-Hwan

소속기관 Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering and Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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Hwang, Jong-Hee

소속기관 Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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Lim, Tae-Young

소속기관 Glass & Display Team, Korea Institute of Ceramic Engineering & Technology

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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Kim, Hyung-Sun

소속기관 School of Materials Engineering, Inha University

주요연구분야 공학 > 재료·에너지공학 > 재료공학 공학 > 전기전자공학 > 전기공학

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