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저자정보
Koo, Ja-Hun (Dept. of Information Display and Advanced Display Research Center, Kyung Hee University) Choi, Jae-Won (Dept. of Information Display and Advanced Display Research Center, Kyung Hee University) Kim, Young-Seoung (Dept. of Information Display and Advanced Display Research Center, Kyung Hee University) Kang, Moon-Hyo (Dept. of Information Display and Advanced Display Research Center, Kyung Hee University) Jang, Jin (Dept. of Information Display and Advanced Display Research Center, Kyung Hee University)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2006년도 6th International Meeting on Information Display
발행연도
2006.1
수록면
1,271 - 1,274 (4page)

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Integrated a-Si:H gate driver with high reliability has been designed and simulated. The proposed a-S:H gate driver has only one reset transistor under AC driving for P and output node. These reset transistors show much less degradation than those under DC driving. The simulation results show that the lifetime and response time are improved significantly compared with those of the prior circuit.

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