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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2011.1
- 수록면
- 1,104 - 1,110 (7page)
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현재의 반도체 검사장비는 테스트 패턴 프로그램을 위한 메모리로 시스템 설계가 간단하고 리프레시가 필요 없는 SRAM(static random access memory) 모듈을 채용하고 있다. 그러나 SRAM 모듈을 이용한 시스템 구성은 용량이 커질수록 장비의 부피가 증가하기 때문에 메모리 대용량화 및 장비의 소형화에 걸림돌이 되고 있다. DRAM(dynamic random access memory)을 이용하여 반도체 검사 장비를 제작할 경우 SRAM 보다 비용과 장비의 면적이 줄어드는 장점이 있지만 DRAM의 특성 상 메모리 셀 리프레시가 필요하여 정시성을 보장해야 하는 문제가 있다. 따라서 본 논문에서는 이러한 문제를 해결하기 위해 DDR2 SDRAM(double data rate synchronous dynamic random access memory)을 이용한 비메모리 검사장비에서 정시성을 보장해 주는 알고리즘을 제안하고 알고리즘을 이용한 메모리 컨트롤러를 개발하였다. 그 결과, DDR2 SDRAM을 이용할 경우 SRAM을 이용할 때 보다 가격과 면적이 줄어들어 가격측면에서는 13.5배 그리고 면적측면에서는 5.3배 이득이 있음을 확인하였다.
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참고문헌 (8)
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전자엔지니어
권오범 / 2003 / 반도체 공정 실시간 자동 진단 시스템 / 한국정보과학회 학술발표논문집 30(1):241~243
J. Han / 2005 / DataMining : Concepts and Techniques, 2nd Edition / Morgan Kaufmann
O. A. S. Youssef / 2009 / An optimized fault classification technique based on Support- Vector-Machines / Power Systems Conference and Exposition(PES) :1~8
노웅기 / 2009 / 반도체공정 이상탐지 및 클러스터링을 위한 심볼릭 표현법의 적용 / 정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터 15(11):806~818
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노웅기 / 2009 / 반도체공정 이상탐지 및 클러스터링을 위한 심볼릭 표현법의 적용 / 정보과학회논문지 : 컴퓨팅의 실제 및 레터 15(11):806~818
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