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학술저널
저자정보
박소정 (고려대학교 반도체기술연구소) 박일후 (고려대학교 전기전자공학부) 문영선 (고려대학교 마이크로/나노 시스템 협동과정) 이국진 (고려대학교 전기전자공학부) 김규태 (고려대학교 전기전자공학부)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제17권 제1호
발행연도
2018.1
수록면
45 - 49 (5page)

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Portable microcontroller based measurement unit is demonstrated using digital-to-analog convertor module, analog-to-digital convertor module and additional preamplifier circuit with low-budget but excellent performances. Using the designed measurement unit, the measurement of current below 1 nA with applying voltage up to 5 V is successfully carried out. With the WiFi module in microcontroller, measured data is transferred to the user's computer. To evaluate the performance of the measurement unit, the transfer curve of a commercial N-type field effect transistor was measured with the measurement unit and the results is well consistent with that measured using commercial characterization system.
#Measurement Unit #Microcontroller #Wireless Transmission #Long-term Monitoring #Semiconductor Devices

목차

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Nomura, K. / 2004 / Room-Temperature Fabrication of Transparent Flexible Thin-Film Transistors Using Amorphous Oxide Semiconductors / Nature 432:488 google schola Yang, C. -S. / 2000 / Stability of Low-Temperature Amorphous Silicon Thin Film Transistors Formed on Glass and Transparent Plastic Substrates / J. Vac. Sci. Technol. B 18:683~689 google schola Christos, D.D. / 2002 / Organic Thin Film Transistors for Large Area Electronics / Adv. Mater 14:99~107 google schola Chen, T. -C. / 2011 / Investigating the degradation behavior caused by charge trapping effect under DC and AC gate-bias stress for InGaZnO thin film transistor / Appl. Phys. Lett. 99:022104 google schola Chowdhury, M.D.H. / 2011 / Time-Temperature Dependence of Positive Gate Bias Stress and Recovery in Amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin-Film-Transistors / Appl. Phys. Lett 98:153511 google schola

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