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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2014.1
- 수록면
- 219 - 225 (7page)
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본 논문에서는 디지털 논리회로의 스캔(scan) 방식에 기초한 효율적인 테스터블(testable) 스캔 셀(cell)을 제안하며 타이밍과 관련된 지연고장(delay fault)을 검출하기 위한 Mux-based 스캔 셀 설계와 테스트방식을 제안한다. 이로 인해 설계와 검증 시 소요되는 테스트 시간과 비용을 단축하고, LOC(Launch-off-Capture)와 LOS(Launch-off-Shift)방식의 지연고장 테스트 방안도 제안한다. 제안된 테스트방식은 스캔 입력에서 거리가 먼 마지막 스캔 셀까지의 전역 제어신호(global control signal)가 늦게 도달하는 문제점을 클럭(clock) 신호를 이용하여 동기화시킴으로써 보다 빠르게 구동시켜 고속의 테스트가 가능하다. 또한, 테스트 벡터 입력 시 대상회로의 논리 값 인가를 차단하여 테스트 벡터 입력동안의 스캔 전력소모를 효과적으로 줄이도록 한다. 스캔 셀 설계의 논리 동작과 타이밍 시뮬레이션을 통해 제안된 방식의 동작을 증명 한다.
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참고문헌 (9)
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Rajesh Kumar / 2009 / A Robust Pulsed Flip-flop and its use in Enhanced Scan Design / ICCD 2009 :97~102
S. DasGupta / 1981 / An Enhancement to LSSD and Some Applications of LSSD in Reliability / Proc. of the International Fault-Tolerant Computing Symp :32~34
Ashok Kumar Suhag / 2011 / Delay Testable Enhanced Scan Flip-Flop: DFT for High Fault Coverage / International Symposium on Electronic system Design 2011 :129~133
P. Sindhuja / 2013 / A Lphc X-Filling Framework For Capture power Reduction During Speed Scan Testing / Journal of Engineering, Computers &Applied Science 2(2):13~19
Michael L. Bushnell / 2002 / Essentials of Electronic Testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / Kluwer Academic Publishers
S. DasGupta / 1981 / An Enhancement to LSSD and Some Applications of LSSD in Reliability / Proc. of the International Fault-Tolerant Computing Symp :32~34
Ashok Kumar Suhag / 2011 / Delay Testable Enhanced Scan Flip-Flop: DFT for High Fault Coverage / International Symposium on Electronic system Design 2011 :129~133
P. Sindhuja / 2013 / A Lphc X-Filling Framework For Capture power Reduction During Speed Scan Testing / Journal of Engineering, Computers &Applied Science 2(2):13~19
Michael L. Bushnell / 2002 / Essentials of Electronic Testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits / Kluwer Academic Publishers
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