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자료유형
학술저널
저자정보
Im, Chaemin (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University) Cho, Mincheol (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University) Bang, Jeseok (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University) Kim, Jaemin (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University) Hahn, Seungyong (Department of Electrical and Computer Engineering, Seoul National University)
저널정보
한국초전도저온학회 한국초전도·저온공학회논문지 한국초전도·저온공학회논문지 제21권 제1호
발행연도
2019.1
수록면
31 - 35 (5page)

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The lumped-parameter circuit model for a no- insulation (NI) high temperature superconductor (HTS) magnet has been well understood after many experimental and analytic studies over a decade. It successfully explains the non-linear charging behaviors of NI magnets. Yet, recently, multiple groups reported that the post-quench electromechanical behaviors of an NI HTS magnet may not be well explained by the lumped circuit model. The characteristic resistance of an NI magnet is one of the key parameters to characterize the so-called "NI behaviors" of an NI magnet and recently a few groups reported a potential that the characteristic resistance of an NI magnet may substantially vary during a quench. This paper deals with this issue, the increment of contact resistance of the no-insulation (NI) REBCO magnet during a quench and its impact on the post-quench behaviors. A 7 T 78 mm NI REBCO magnet that was previously built by the MIT Francis Bitter Magnet Laboratory was chosen for our simulation to investigate the increment of contact resistance to better duplicate the post-quench coil voltages in the simulation. The simulation results showed that using the contact resistance value measured in the liquid nitrogen test, the magnitude of the current through the coil must be much greater than the critical current. This indicates that the value of the contact resistance should increase sharply after the quench occurs, depending on the lumped circuit model.
#contact resistance #lumped circuit model #no - insulation #quench

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