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Ji Yeon Shin (Kyung Hee University) Ting Ting Zhang (Kyung Hee University) Tong In Oh (Kyung Hee University) Soo Woon Park (UMI(Universal Monitoring & Inspection)) Yong Cheol Kim (UMI(Universal Monitoring & Inspection)) Seung Bong Lee (UMI(Universal Monitoring & Inspection)) Kwang Sik Yoon (UMI(Universal Monitoring & Inspection)) Kil Mo Koo (UMI(Universal Monitoring & Inspection))
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2020년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2020.8
수록면
1,076 - 1,079 (4page)

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In vary high temperature conditions a metal material thickness measurement is of importance in the phenomena associated with the nuclear accident, in connection with the demonstration experiments of In-vessel phenomenon. In this case a hemispherical thickness measuring apparatus and method using a magnatostrictive ultrasonic wave that can be suggested to measure for this thickness change in real time as the ultrasonic wave apparatus is secured.

목차

Abstract
I. Introduction
II. Apparatus for the Metal Material Thickness Measurement
III. System Setup and Measurement Results
IV. Conclusion and Future Research Directions
REFERENCES

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