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Akpeko Gasonoo (Hanbat National University) Young-Ji Lim (Hanbat National University) Eun-Jeong Jang (Hanbat National University) Jonghee Lee (Hanbat National University) Min-Hoi Kim (Hanbat National University) Yoonseuk Choi (Hanbat National University) Jae-Hyun Lee (Hanbat National University)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2021년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2021.6
수록면
641 - 642 (2page)

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In this letter, we report a systematic analysis of the degradation mechanism in charge generation layers (CGL) using impedance and optical spectroscopy. We investigated the degradation of the CGL by subjecting it to a constant electrical stress of 0.36 mA. After 10 hours of electrical aging, a significant rise in operating voltage from 8 V to more than 11 V led to a seven-fold reduction of tunnel ... 전체 초록 보기

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