지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2021.12
- 수록면
- 689 - 696 (8page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
본 논문에서는 고장예측진단 및 건전성 관리 기법(Prognostics and Health Management, PHM)을 적용하기 위해 해당 시스템 혹은 회로 내부에서 결함특성을 감지하고 예측할 수 있는 회로 구조를 제안하였다. 기존 연구에서 회로 결함의 진행에 따라, S-parameter 크기 최소값의 주파수가 변화하는 것을 확인하였다. 이러한 특성을 기존에는 네트워크 분석기(Network Analyzer)를 활용하여 측정하였으나, 본 연구에서는 같은 결함검출기법을 활용하더라도 큰 계측장비 없이 결함의 진행상황 및 잔여 수명, 결함발생 여부를 확인할 수 있는 소형화된 회로를 설계하였다. 본 연구에서는 S-parameter의 변화를 야기하는 임피던스의 변화를 감지할 수 있도록 회로를 설계하였으며, Bond-wire의 온도반복에 따른 S-parameter 변화 측정결과를 제안하는 회로에 적용하였다. 이를 통해 해당 회로가 Bond-wire의 결함을 감지할 수 있다는 것을 성공적으로 검증하였다.
목차
Abstract
요약
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
References
참고문헌 (0)
참고문헌 신청이 논문의 저자 정보
이 논문과 함께 이용한 논문
비대면 자동결제 시스템을 위한 CNN 기반 객체 검출기의 고처리량 및 전력 효율적인 FPGA 구현
황인성
,
이해인
,
김현
전자공학회논문지
2024
.10
AC 임피던스 측정을 통한 철근콘크리트 부식 상태평가
김동원
,
기성훈
대한건축학회 학술발표대회 논문집
2021
.10
유도면전류와 면적형 자기센서 배열을 이용한 알루미늄 합금 구조물의 피로균열 비파괴평가
박영민
,
서도원
,
전종우
외 2명
대한기계학회 춘추학술대회
2011
.04
MultiSIM과 NI ELVIS를 이용한 전자회로 해석
이명호
,
사공성대
,
강현웅
대한전자공학회 학술대회
2008
.06
빔 구조물의 손상평가를 위한 임피던스 기술의 응용
홍동표
,
홍용
,
왕고평
외 4명
한국생산제조학회 학술발표대회 논문집
2006
.05
최근 본 자료
댓글(0)
0
UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2022-056-000120670