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안지웅 (공주대학교) 김재경 (공주대학교) 전의식 (공주대학교)
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Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회 학술발표대회 논문집 한국정밀공학회 2021년도 추계학술대회 논문집
발행연도
2021.11
수록면
638 - 638 (1page)

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최근 Deep Learning 을 비롯한 인공지능 기술의 활용이 다양한 분야에서 활발해지고 있으며 Machine Vision System을 이용한 불량 검사에서도 불량 검출을 위한 수요가 증가하고 있다. 본 논문에서는 DDI (Display Driver IC) 반도체 공정에서 Deep Learning 을 이용하여 자동 분류 및 불량 검출을 위한 Algorithm을 개발하였다. Machine Vision Algorithm 처리 시 발생하는 Over Kill 에 대하여 Deep Learning Algorithm 을 적용함으로써 검사 변수에 의해 발생한 Over Kill Rate 를 줄이는 것이 목적이다. DDI 상의 범프 결함을 자동 검출하기 위하여 Machine Vision System 을 이용하여 범프 결함을 ... 전체 초록 보기
#Deep learning #Bump defect #DDI defect #Machine vision system #Vision defect

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