자가 지도학습을 이용하여 데이터 불균형을 고려한 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 클러스터링 방법 연구

최이수 ,  김병훈

한국경영과학회 학술대회논문집

2022 .06

CAM과 Grad-CAM 기반의 불량 웨이퍼 bin map 분류 및 원인 지역 시각화 방법론

Junhong Kim ,  Jaesun Pa ,  k 외 4명

한국경영과학회 학술대회논문집

2018 .04

CNN을 활용한 웨이퍼 불량 원인 인자 파악에 관한 연구 : 반도체 전공정 중심으로

성대식 ,  김학수

상업교육연구

2022 .04

범주별 불균형이 반영된 준지도 학습을 활용한 반도체 웨이퍼 빈 맵 불량 패턴 검출

정진용 ,  김성범

한국경영과학회 학술대회논문집

2023 .05

Wafer Map defects patterns classification using neural networks

김희영 ,  경기룡

한국경영과학회 학술대회논문집

2017 .04

반도체 웨이퍼의 표면 불량을 자동적으로 분류하는 CycleGAN 기반 방법

전세준 ,  김창욱 ,  이석형 외 1명

한국경영과학회 학술대회논문집

2018 .04

비용 효율적인 웨이퍼맵 패턴 분류를 위한 합성곱 신경망의 능동적 학습 방법

심재웅 ,  강석호 ,  조성준

한국경영과학회 학술대회논문집

2019 .04

다양한 크기의 웨이퍼 맵 불량 감지를 위한 합성곱 신경망 - 전역 평균 풀링 기반 방법

서민경 ,  김창욱

한국경영과학회 학술대회논문집

2019 .04

딥러닝(Deep Learning)

임륭혁

국토

2017 .03

액티브 위험과 정보비율에 관한 연구

이성훈 ,  안근배

[NPS] 국민연금공단 연구보고서

2024 .07

반도체 공간적 특성을 고려한 웨이퍼 테스트 데이터의 언더샘플링 방법 개발: 잠재 불량 분류 모델 개발사례 연구

배영목 ,  김광재

한국경영과학회 학술대회논문집

2023 .05

Modeling Transient period of cluster tool with the minimum number of wafers

김우진 ,  이태억

한국경영과학회 학술대회논문집

2015 .04

클러스터 장비 내 웨이퍼 품질 향상을 위한 스케줄링: 웨이퍼 지연 및 흐름시간 제어

김민찬 ,  유태선

한국경영과학회 학술대회논문집

2022 .06

비지도 학습을 활용한 자동차 실내 소음 위치 탐색 방안

양원석

한국생산관리학회지

2021 .01

입력 정보 차원 증가에 따른 비지도 클러스터링 기반 고장 유형 분류의 성능 분석

유나현 ,  백수정

한국경영과학회 학술대회논문집

2023 .05

액티브 시니어 진단 척도개발을 위한 기초연구

오민정 ,  정진철 ,  박종철

혁신기업연구

2023 .03

Contrastive One Class Classification for Unsupervised Real-time Anomaly Detection

이예슬 ,  송승환 ,  박관용 외 2명

한국경영과학회 학술대회논문집

2023 .05

[ENJOY] ‘액티브 힐링’으로 나를 깨우자

윤대현

한경MONEY

2023 .03

딥러닝 기반 텍스트 분류 모델을 활용한 국내 이커머스 사용자 리뷰 분석

이성우 ,  송보미

한국경영과학회 학술대회논문집

2021 .06

머신러닝 기법을 이용한 분류 : Convolutional Neural Network을 활용한 제품검사 장비 이미지 불량

김민재 ,  이채교 ,  소민섭 외 1명

한국경영과학회 학술대회논문집

2018 .04