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저자정보
진창균 (서울과학기술대학교) 김성은 (서울과학기술대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2022년도 대한전자공학회 하계종합학술대회 논문집
발행연도
2022.6
수록면
1,986 - 1,989 (4page)

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In this paper, we propose sensor fault detection and prediction system using Variational AutoEncoder(VAE) based data trend analysis. The proposed system scores the fault state prediction by observing the trend of input data through the sample mean of Reconstruction Error(RE) obtained from VAE and calculating the distance from the threshold statistically. In the experiment, the accuracy analysis of the VAE and hypothesis verification are performed using data that added noise to the actual wafer sensor data.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험 및 검증
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

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