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학술저널
저자정보
Ahram Kim (Ajou University) Byung Hee Son (Ajou University) Hwan Sik Kim (Ajou University) Yeong Hwan Ahn (Ajou University)
저널정보
한국광학회 Current Optics and Photonics Current Optics and Photonics Vol.2 No.6
발행연도
2018.12
수록면
514 - 518 (5page)

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Carrier diffusion length in the light-sensitive material is one of the key elements in improving the light-current conversion efficiency of solar-cell devices. In this paper, we measured the carrier diffusion length in lead-halide perovskite (MAPbI<SUB>3</SUB>) and mixed lead-halide (MAPbI<SUB>3-x</SUB>Cl<SUB>x</SUB>) perovskite devices using scanning photocurrent microscopy (SPCM). The SPCM signal decreased as we moved the focused laser spot away from the metal contact. By fitting the data with a simple exponential curve, we extracted the carrier diffusion length of each perovskite film. Importantly, the diffusion length of the mixed-halide perovskite was higher than that of the halide perovskite film by a factor of 3 to 6; this is consistent with the general expectation that the carrier mobility will be higher in the case of the mixed lead-halide perovskites. Finally, the diffusion length was investigated as a function of applied bias for both samples, and analyzed successfully in terms of the drift-diffusion model.

목차

I. INTRODUCTION
II. RESULTS AND DISCUSSION
III. CONCLUSION
REFERENCES

참고문헌 (27)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2023-425-000232032