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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Hyangseok Lee (Kyungpook National University) Yongku Kim (Kyungpook National University) Kilho Cho (Kyungpook National University)
저널정보
한국데이터정보과학회 한국데이터정보과학회지 한국데이터정보과학회지 제34권 제1호
발행연도
2023.1
수록면
145 - 155 (11page)
DOI
10.7465/jkdi.2023.34.1.145

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The Shewhart control chart is simple to apply to the actual production process. When the change is large, it is sensitive to detect the changes. However, if the change is small, it is not sensitive. Several methods have been developed to improve the sensitivity of the Shewhart control chart. Western Electronic Company applied runs rules to have sensitivity in cases of small shifts. To calculate the ARL of the control chart, we use the finite Markov chain imbedding method of Fu and Koutras and calculate ARLs in cases of several mean and variance shifts. In this thesis, according to the small shifts in mean and variance, the two control charts were compared through ARL. The control chart with runs rules has been more decreased ARL in small shifts compared the traditional Shewhart control charts. That is, it can be seen that the control chart with runs rules detects more sensitively than the Shewhart control chart when there are small shifts.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Finite Markov chain imbedding
3. Run-length distribution for control chart with runs rules
4. Conclusion
References

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