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저자정보
서창수 (인하대학교 전기공학과) 허창수 (인하대학교) 이성우 (인하대학교 전기공학과) 진인영 (인하대학교 전기공학과)
저널정보
한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제31권 제1호
발행연도
2018.1
수록면
44 - 49 (6page)
DOI
https://doi.org/10.4313/JKEM.2018.31.1.44

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본 논문는 IEMI에 의한 네트워크 시스템을 구성하는 네트워크 통신 장치의 취약점을 분석하였다. Ultra Wide Band Generator (180kV, 700 Mhz)가 IEMI 소스로 사용되었다. 피시험 기기들은 네트워크 시스템 구성시 사용되는 스위치 허브 및 워크 스테이션이다. LAN 시스템을 구성하고 네트워크 상태를 모니터링하여 네트워크 장치의 오작동을 확인하였다. 실험 결과, 전기장이 증가함에 따라 네트워크의 오작동이 발생하였다. 데이터 손실률은 방사 시간이 증가함에 따라 비례하여 증가한다. Switch Hub의 경우 임계 전기장 값은 이 실험에 사용된 모든 조건에서 10 kV/m이었다. 임계치는 오작동의 원인으로 전계 값에 의해서만 영향을 받았다. 펄스 반복률과의 상관 관계는 발견되지 않았다. 그러나 워크 스테이션의 경우 펄스 반복률이 증가함에 따라 장비가 약하게 반응하고 임계 값이 감소하는 것으로 확인할 수 있었다. 위의 결과로 장비의 내부 PCB 회로가 복잡 해짐에 따라 장비가 펄스 반복 속도에 민감하다는 것을 추론 할 수 있었다. IEMI에 의한 피 시험 기기의 전기적 결합을 확인하기 위해 전류 센서를 사용하여 피 시험 기기 내부의 PCB 라인과 네트워크 라인 커플링 전류를 측정했다. 측정 결과, IEMI에 의한 결합 전류가 임계 값을 넘어서면 내부 장치 라인을 통해 흐르므로 오작동이나 고장이 발생할 수 있다고 추측 할 수 있었다. 이 연구의 결과는 의도적인 전자기 간섭에 대한 장비 보호 및 효과 분석을 위한 기본 데이터에 적용될 수 있을 것이다.

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