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This script covers the principles and general concepts of atomic force microscopy, examines various approaches to nanoscale analysis using atomic force microscope, and provides an overview of several recent application areas utilizing atomic force microscope. Additionally, I aim to discuss in broad terms the principles of utilizing atomic force microscope for certain cuttingedge applications.
목차
서론
원자힘 현미경의 구성요소 및 구현 방식
원자힘 현미경의 구현 방식의 예
고해상도 및 고속 원자힘 현미경
원자/분자 이미징을 위한 수정진동자 원자힘 현미경
맺음말
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