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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2024.1
- 수록면
- 1,125 - 1,129 (5page)
이용수
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본 연구는 사용자의 사전 파라미터에 의존하는 규칙기반(Rule-Based)의 BGA (Ball Grid Array) 결함 검출 방법의 한계를 극복하기 위해 VAE (Variational AutoEncoder)를 기반으로 한 방법을 제안한다. 기존 BGA 결함 탐지 방법 중 대부분은 규칙 기반 접근방식에 의존하고 있어, 사용자에 의해 사전 설정된 검사 파라미터에 따라 검사의 정확도가 좌우되며 반도체 자재 변경 시 파라미터 재설정이 필수적이다. 이에 본 연구는 검사 파라미터를 사전에 설정할 필요가 없는 VAE 를 활용한 방법을 제안한다. 반도체 결함을 검출하기 위해, 원본 반도체 이미지와 VAE 를 통해 생성된 이미지 간의 코사인 유사도를 이상치 점수로 사용한다. 실험 결과, 제안된 방법이 기존의 규칙 기반 방법에 준하는 높은 성능을 보이는 것을 확인했다. 본 연구에서 제안하는 방법은 검사 파라미터 없이 BGA 결함 탐지가 가능하여 더욱 사용자 친화적인 머신 비전 사용자 인터페이스를 제공한다.
목차
요약문
1. 서론
2. 관련 연구
3. 방법론
4. 실험 및 결과
5. 결론
참고 문헌
참고문헌 (0)
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