오실레이터의 자체 트리밍을 이용한 8비트 MCU 테스트 :Testing of 8-Bit MCU Using Self-Trimming of Oscillator

황선모

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자료유형: 학위논문

저자정보: 황선모 (충북대학교, 忠北大學校大學院)

지도교수: 최호용

발행연도: 2013

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2016

자체 트리밍 방식을 이용한 MCU 오실레이터의 테스트

황선모 , 최호용 한국정보기술학회논문지 2016.06 학술저널

2013

오실레이터의 자체 트리밍을 이용한 8비트 MCU 테스트

황선모 나노반도체공학과 2013.01 학위논문

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This thesis represents a testing of 8-bit MCU with embedded oscillator using self-trimming of oscillator. On the contrary to the previous serial oscillator trimming, a parallel oscillator trimming is executed using the embedded oscillator register which is controlled by an internal MCU programming. An xRAM address mirroring method is also used to reduce the writing time for programming on the flash memory. The DC testings are executed in addition to the AC function shmoo tests. Experimental results show that the proposed test method has the same results of trimming as the previous test method, but has the 25% reduced testing time.

Ⅰ. 서 론 1
Ⅱ. 8-BIT MCU의 테스트 3
2.1 8-BIT MCU 3
2.2 테스터 및 프로브 카드 5
2.3 8-BIT MCU의 테스트 항목 8
2.4 내부 Oscillator의 trimming을 이용한 테스트 11
Ⅲ. 오실레이터의 자체 트리밍을 이용한 8-Bit MCU 테스트 16
3.1 Oscillator self trimming 방법 17
3.2 Self trimming program code 18
3.3 Self trimming시 메모리 문제점 및 해결방안 21
Ⅳ. 실험 결과 및 분석 22
4.1 Oscillator trimming 테스트 결과 22
4.2 칩에 대한 trimming 주파수 측정 결과 25
4.3 전체 MCU 실험 결과 29
4.4 성능 비교 및 분석 34
Ⅴ. 결 론 35
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