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이용수3
제 1 장 서론 11.1 열경화성 고분자 11.1.1 Dicyclopentadiene(DCPD) 11.1.2 에폭시 수지(Epoxy resin) 1A) Glycidyl 형 에폭시() 31.1.3 아민경화제 51.2 열전도성 고분자 복합재료 51.3 필러의 배향 71.3.1 자기장을 통한 필러의 배향 7A) 고분자/탄소소재 복합체 7B) 고분자/금속코팅탄소소재 복합체 121.3.2 전기장을 통한 필러의 배향 131.3.3 물리적인 힘을 이용한 필러의 배향 131.4 열전달에 대한 이론적 배경 131.4.1 전도 141.4.2 대류 151.4.3 복사 151.5 Laser flash analysis(LFA) 161.6 단섬유 보강 복합재료(SFRP) 191.7 열전도도 분석 모델 201.7.1 Halpin-Tsai 모델 201.7.2 Nielsen 모델 201.7.3 Modified Nielsen 모델 21제 2 장 실험 252.1 실리콘 몰드 제작 252.2 열전도도 측정용 시험편 제조 252.2.1 DCPD/MCF 시스템 25A) Grubbs 촉매 재결정 25B) DCPD/MCF 복합체 제작 272.2.2 에폭시 시스템 272.3 자기장 인가 장치 282.4 시험편의 특성 분석 302.4.1 레이저 플래시 분석법(Laser flash analysis, LFA) 302.4.2 변조시차주사열량계(Modulated differential scanning calorimetry, MDSC) 302.4.3 광학현미경(Optical microscope, OP) 302.4.4 자외선-가시광선 분광계(Ultraviolet-visible spectrophotometer) 312.4.5 적외선-열화상 카메라(IR-Thermo camera) 31제 3 장 결과 및 고찰 323.1 자기력 비인가 시험편 323.2 Dicyclopentadiene(DCPD) 353.2.1 자석과 시료의 수직 거리변화 353.2.2 자석과 시료의 수평 위치 변화 353.2.3 UV-visible 분광계 측정 393.2.4 MCF의 함량의 변화 393.2.5 자성 입자의 효과 46A) 자성입자 크기와 종류 46B) 자성 입자 함량변화 46ⅰ) 산화(Ⅲ)철(∼50 nm) 46ⅱ) 니켈 분말 523.3 에폭시 수지 523.3.1 저점도 에폭시 52A) 자기력의 효과 52B) MCF 함량 변화 563.3.2 고점도 에폭시 60A) 자기력의 효과 60B) MCF 함량의 변화 643.4 MCF 함량에 따른 열전도도 변화(DCPD, 저점도?고점도 에폭시) 683.5 열전도도 분석 모델 적용 683.5.1 DCPD 683.5.2 에폭시 수지 76A) 저점도 에폭시 수지 76B) 고점도 에폭시 수지 763.6 적외선-열화상 카메라(IR-Thermo camera)를 이용한 열전도도 변화 양상 관찰 853.7 본 기술이 적용될 수 있는 열 및 광 경화성 수지 853.8 본 기술이 적용될 수 있는 자성입자 88제 4 장 결론 90참고 문헌 94
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