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이용수2
국 문 초 록 iv영 문 초 록 v목 차 viList of Figures viiList of Tables ix1. 서 론 12. 이론적 배경 32.1 전자 패키지 연구 동향 32.2 Flexible electronics 연구 동향 52.3 무연 솔더 (Lead-free Solder) 82.3.1 무연 솔더 연구동향 82.3.2 고온용 무연 솔더 102.3.3 UBM (Under Bump Metallurgy) 112.3.4 금속간화합물 (Intermetallic compound) 112.3.5 Sn-Cu 계면반응 122.3.6 Ni-Sn 계면반응 142.3.7 Sn-Ag-Cu 솔더와 Cu/Ni UBM 계면 반응 162.3.8 Sn-Cu-(X)Al(Si) 솔더와 Cu UBM 계면 반응 182.4 접합부의 신뢰성 평가 182.4.1 접합강도 평가 (shear test) 182.4.2 열 충격 시험 (Thermal shock test) 192.4.3 반복 굽힘 시험 (Bending test) 193. 실험 방법 203.1 플렉시블 기판 제작 203.1.1 플렉시블 기판 설계 및 표면처리 203.1.2 솔더링 공정 213.1.3 리플로우 공정 최적 조건 도출 233.2 신뢰성 평가 253.2.1 열 충격 시험 (Thermal Shock Test) 253.2.2 접합강도 평가 (shear test) 273.2.3 반복 굽힘 시험 (Bending test) 284. 결과 및 고찰 304.1 신뢰성 평가 결과 304.1.1 열 충격 후 OSP 표면처리 계면분석 및 금속간화합물 두께 304.1.2 열 충격 후 OSP 표면처리 계면분석 및 금속간화합물 두께 374.1.3 접합강도 시험 결과 444.1.4 반복 굽힘 시험 결과 475. 결론 516. 참고논문 53
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