Built-In Self Test for High Density SRAMs

Jong Cheol Lee ,  Yong Seok Kang ,  Sung Ho Kang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

SRAM 이중-포트를 위한 내장된 메모리 BIST IP 자동생성 시스템 개발

심은성 ,  이정민 ,  이찬영 외 1명

전자공학회논문지-SD

2005 .02

입력신호 그룹화 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소 ( Test Time Reduction of BIST by Primary Input Grouping Method )

장윤석 ,  김동욱

전자공학회논문지-SD

2000 .08

고집적 SRAM Cell의 동작안정화에 관한 연구 ( A Study on the Stability of High Density SRAM Cell )

최진영

전자공학회논문지-A

1995 .11

동적 전원 전류(Dynamic Power Supply Current : DPSC)를 이용한 새로운 SRAM Transparent 테스트

김홍식 ,  강성호

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

An Efficient BIST (Built-in Self-test) for A/D converters

Kicheol Kim ,  Youbean Kim ,  Incheol Kim 외 2명

대한전자공학회 ISOCC

2007 .10

혼합 모드 BIST 테스트 패턴 생성기

金弘植 ,  李抗圭 ,  姜成昊

전기학회논문지

1998 .07

효율적인 캐쉬 테스트 알고리듬 및 BIST 구조 ( An Effective Cache Test Algorithm and BIST Architecture )

김홍식 ,  윤도현 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1999 .12

분할 및 병렬 처리 방법에 의한 BIST의 테스트 시간 감소

崔炳九 ,  金東郁

전기학회논문지 D

2000 .06

전류모드 기술을 이용한 고속동작 SRAM 설계

류연택 ,  서해준 ,  김영복 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2006 .06

Fault Models and Test Algorithm for 3-D SRAMs

Cheol Kim ,  Kwang-Jin Lee ,  Seung-Hoon Jung 외 3명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2005 .07

스캔 분할 기법을 이용한 저전력 Test-Per-Scan BIST

문정욱 ,  손윤식 ,  정정화

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계

이정민 ,  심은성 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2005 .02

P1838 표준의 Memory BIST를 재활용 한 3차원으로 적층 된 플랫 메모리 자체 테스트 기법

강동호 ,  박재석 ,  김일웅 외 2명

한국통신학회 학술대회논문집

2015 .01

16-ns 256K CMOS SRAM

김병윤 ,  정태성 ,  박희철 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .07

16-ns 256K CMOS SRAM ( 16-ns 256K CMOS SRAM )

김병윤 ,  정태성 ,  박희철 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1988 .07

읽기 전력 감소를 위한 SRAM Cell 설계

김민환 ,  공배선

대한전자공학회 학술대회

2017 .06

반도체 메모리의 Built-In Self Test ( BIST )

조상복

전자공학회지

1992 .05

초고속 고집적 Synchronous SRAM과 Logic Embedded SRAM을 위한 Trench Isolation의 Full CMOS SRAM Cell Technology

정순문 ,  정규철 ,  조강식 외 6명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

플래시 메모리를 위한 유한 상태 머신 기반의 프로그래머블 자체 테스트

김지환 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2007 .06