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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김지환 (숭실대학교) 장훈
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第44卷 第6號
발행연도
2007.6
수록면
34 - 41 (8page)

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본 논문에서 제안한 FSM 기반의 프로그래머블 BIST(Built-In Self-Test)는 플래시 메모리를 테스트하기 위한 기존의 알고리즘들을 코드화 하여 그중에서 선택된 알고리즘의 명령어 코드를 받아서 플래시 메모리 테스트를 수행한다. 또한 제안하는 구조는 각 알고리즘에 대한 테스트 절차를 간단하게 한다. 이외에도 플래시 메모리 BIST를 재구성하는데 걸리는 시간도 기존의 BIST와 비교해 볼 때 매우 적다. 우리가 제안한 BIST 구조는 자동적으로 Verilog 코드를 생성해주는 프로그래머블 플래시메모리 BIST 생성기이다. 만약 제안된 방법을 실험하게 되면, 제안된 방법은 이전의 방법들과 비교해서 크기도 더 작을 뿐만 아니라 융통성 면에서도 좋은 성과를 얻었다.
#플래시 메모리 #외란 고장 #FSM 기반의 프로그래머블 BIST

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (9)

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, 1997 , Flash memory cells- an overview 85 : 1248 ~ 1271 google schola , 1991 , in Proceeding of England google schola , 2000 , Testing flash memories google schola , 2001 , Flash memory disturbances: modeling and test : 218 ~ 220 google schola , 2002 , RAMSES-FT: A Fault Simulator for Flash Memory Testing and Diagnostics : 281 ~ 286 google schola

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