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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1982.5
- 수록면
- 37 - 45 (9page)
이용수
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본 논문에서는 다수의 동일한 비트 슬라이스의 행렬로 구성된 프로세서를 위한 효과적인 고장진단방법을 제안하였다. 구체적으로 high functional 고장모형과 restrited multiple alice fault 가정하에 행렬내의 슬라이스를 하나씩 테스트하는 대신에 전체 행렬을 동시에 테스트하는 test generation 방법을 제시하고, 또 이 방법으로 구한 테스트 패턴을 이용한 고장검출 및 슬라이스 단위의 고장위치 지정방법을 제안하였다.
위에서 제안한 방법을 이용하여 내게의 Am2901 슬라이스로 구성된 프로세서에 적용 가능한 테스트 마이크로프로그램 및 고장진단을 위한 시스템을 설계하였다.
위에서 제안한 방법을 이용하여 내게의 Am2901 슬라이스로 구성된 프로세서에 적용 가능한 테스트 마이크로프로그램 및 고장진단을 위한 시스템을 설계하였다.
목차
요약
ABSTRACT
1. INTRODUCTION
2. FAULTS IN AN APPAY OF SLICES
3. TEST GENERATION STRATEGY
4. TEST GENERATION FOR THE SYSTEM OF AM2901 SLICES
5. FAULT DIAGNOSIS FOR BIT-SLICED PROCESSOR
6. CONCLUSION
REFERENCE
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