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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.3
- 수록면
- 32 - 40 (9page)
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한 제품을 만들어 시장에 내놓는 데 걸리는 시간이 짧아짐에 따라 고속 고장 진단의 필요성이 커지고 있다. 본 논문에서는 고속고장 진단을 위하여 정렬된 고장 후보 목록과 정렬된 테스트 패턴을 사용하여 고장 점수를 기준으로 고장 탈락을 시키는 방법을 제안한다. 제안하는 고장 탈락 방법은 고장 시뮬레이션과 매칭 알고리듬을 기반으로 하는 모든 고장 진단에 적용할 수 있다. 완전 주사 ISCAS 89 벤치마크 회로를 이용한 실험 결과는 정렬된 고장 후보 목록 및 정렬된 테스트 패턴을 적용한 고장 탈락 방법의 효율성을 보여준다.
목차
요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌
저자소개
참고문헌 (10)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - J. Lee / 2006 / An accurate matching algorithm with essential factors for fault diagnosis / in Proceedings of International SoC design Conference : 301 ~ 304
2. [학술대회논문] - P. R. Menon / 1988 / Critical path tracing in sequential circuits / in Proceedings of International Conference on Computer-Aided Design : 162 ~ 165
3. [단행본] - Y. Karkouri / 1994 / Use of fault dropping for multiple fault analysis / in Transactions on Computers : 98 ~ 103
4. [학술대회논문] - J. Lee / 2007 / A fault dropping technique using fault scores for fast fault diagnosis / in Proceedings of Korea Test Conference
5. [학술대회논문] - I. Pomeranz / 2005 / The accidental detection index as a fault ordering heuristic for full-scan circuits / in Proceedings of Design, Automation and Test in Europe : 1008 ~ 1013
2. [학술대회논문] - P. R. Menon / 1988 / Critical path tracing in sequential circuits / in Proceedings of International Conference on Computer-Aided Design : 162 ~ 165
3. [단행본] - Y. Karkouri / 1994 / Use of fault dropping for multiple fault analysis / in Transactions on Computers : 98 ~ 103
4. [학술대회논문] - J. Lee / 2007 / A fault dropping technique using fault scores for fast fault diagnosis / in Proceedings of Korea Test Conference
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