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Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2001년도 봄 학술발표논문집 제28권 제1호(A)
발행연도
2001.4
수록면
61 - 63 (3page)

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테스트 시스템(Test System)은 반도체 제품을 웨이퍼(Wafer) 또는 완성된 제품 상태 하에서 전기적 특성과 성능을 검사하고 그 결과를 산출해내는 검사장치이다. 테스트 시스템은 크게 하드웨어와 소프트웨어로 이루어져 있으며 시스템을 제어하고 사용자 인터페이스 및 각종 자료를 처리하는 소프트웨어는 그 중요성이 한층 더 부 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 서론

2. 테스트 시스템의 구조

3. 테스트 시스템 언어 설계

4. 번역기 설계

5. 결론

6. 참고문헌

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