메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (6)

초록· 키워드

오류제보하기
本 論文에서는 特性 graph를 利用하여 fan-out free 인 組合理論回路에 對한 test pattern 의 순서를 결정하고 주고 fan-out reconvergent 組合理論回路일 경우에도 이 特性 Graph를 利用하여 多重고장을 체격적으로 구할 수 있는 방법에 대하여 論한다.
Test pattern의 순서 決定으로 回路의 정상 동작 여부를 가리는데 드는 비용을 감소 시킬수 있음에 대하여 論한다.
fan-out 이 存在할때의 多重고장 검출은 특성 graph를 사용할 수 있도록 fan-out 지점을 分難 시켜 fan-out free인 회로로 만들고 분리된 각 回路에 對한 最小 test pattern을 구한 후, 다시 合成하여 全回路에 대한 test pattern 을 구한다. 이에 對應하는 特性 graph 에 依해 多重고장을 검출하는 부가의 test pattern을 간단하게 구할 수 있음을 보인다.

목차

要旨

1. 序論

2. 基本정의 및 Test 順序

3. Fan - out 이 存在하는 경우의 Test pattern 算出

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-569-017908697