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Multi-layer film of MgO/(FePt-B)_(50㎚)/ MgO was deposited on Si(100) substrates by RF magnetron sputtering. The boron chips were uniformly placed on the FePt target. The boron content of thin film was found to be about 5, 10, 15, 25 and 33 at.% by using a CAMECA SX-51 wavelength dispersive spectroscopy (WDX). It is observed that X-ray diffraction patterns of FePt-B film by post-annealing exhibited a transformation from disordered fc ... 전체 초록 보기

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