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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제1호
발행연도
2006.1
수록면
71 - 79 (8page)

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NoC 테스트는 온칩네트워크를 TAM으로 재사용하기 때문에 SoC 구조 기반의 여러 테스트 기법을 그대로 사용할 수가 없다. 본 논문에서는 네트워크 기반 TAM의 문제점을 크게 감소시킨 새로운 형태의 NoC 테스트 플랫폼을 소개하며 이를 이용한 NoC 테스트 스케쥴링 알고리즘을 제안한다. 제안한 알고리즘은 SoC 테스트 용도로 개발된 rectangle packing 방식을 기반으로 효율적이고 체계적인 테스트 스케쥴링이 가능하게 한다. ITC'02 벤치회로를 이용한 실험 결과 제안한 방법이 기존 방법에 비해 최대 55%까지 테스트 시간을 줄일 수 있음을 확인하였다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. SoC와 NoC 테스트의 비교

Ⅲ. NoC 테스트 플랫폼

Ⅳ. 테스트 스케쥴링 알고리즘

Ⅴ. 성능 평가 및 실험 결과

Ⅵ. 결론

참고문헌

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참고문헌 (18)

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