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한국전자파학회 한국전자파학회논문지 한국전자파학회논문지 제17권 제5호
발행연도
2006.5
수록면
408 - 415 (8page)

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본 논문에서는 RF 전력 증폭기의 메모리 효과를 모델링하기 위한 향상된 시스템 레벨의 모델을 제안하고, 사전 왜곡 선형화기를 적용한 전력 증폭기의 출력 신호의 스펙트럼 밀도를 분석하여 제안한 모델을 검증하였다. 기존의 Three-Box(Wiener-Hammerstein) 모델은 전력 증폭기의 RF 주파수 특성을 입출력 선형 필터를 사용하여 모델링한 것으로, Hammerstein 구조의 사전 왜곡 선형화기를 사용하면 이론적으로 인접 채널 간섭을 모두 제거할 수 있다. 그러나, 실제 전력 증폭기의 경우 RF 주파수 특성 외의 메모리 현상에 의해 주파수 특성만을 보정한 Hammerstein 사전 왜곡기에 의한 인접 채널 간섭비의 향상 정도가 제한적이다. 이러한 출력 스펙트럼 특성은 Three-Box 모델의 메모리 성분을 가지지 않는 비선형 블록을 메모리 다항식으로 바꾸어 준 모델을 사용하여 정확히 예측될 수 있다. IEEE 802.11 g 무선 랜 전력 증폭기에 Hammerstein 구조의 사전 왜곡이 적용된 경우 측정된 인접 채널 스펙트럼 밀도값을 제안된 모델은 ±30 ㎒의 인접 채널 범위에서 2 ㏈ 이하의 오차로 예측하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. Three-Box 전력 증폭기 모델
Ⅲ. Hammerstein 구조를 이용한 Three-Box 모델의 사전 왜곡 선형화기
Ⅳ. 메모리 다항식을 이용한 Three-Box 모델의 확장 및 검증
Ⅴ. 결론
참고문헌
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