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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 전자공학회논문지 SD편 제43권 제10호
발행연도
2006.10
수록면
140 - 150 (11page)

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본 논문은 SoC 내부의 다양한 코어들을 효율적으로 테스트하기 위한 하드웨어 구조에 초점을 두고 있다. 기존의 한 번에 한 개의 코어만을 순차적으로 테스트하는 방식은 많은 테스트 시간을 요구한다. 이를 보완하고자 본 논문에서는 병렬적으로 여러 코어를 테스트할 수 있는 S-TAM 구조 및 컨트롤러를 제안한다. S-TAM 구조는 테스트 버스 공유 방식을 이용하여 브로드캐스트 방법을 지원하며 이를 기반으로 하여 임의의 코어만을 선택적으로 테스트할 수도 있다. 이뿐 아니라 S-TAM 컨트롤러는 IEEE 1149.1 및 IEEE 1500 등과 같은 서로 상이한 테스트 기반을 통해 구현된 다양한 코어들을 동시에 제어함으로써 효과적인 SoC 테스트를 가능하게 한다.
#SoC #TAM #IEEE 1500 #core test

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. IEEE 1500 구조
Ⅲ. 제안하는 SoC 테스트 구조
Ⅳ. 코어간의 동작 일치화 과정
Ⅴ. 결과 분석
Ⅵ. 결론
참고문헌
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