메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류
인문학
인문학 일반 역사학 철학 종교학 어문학 기타 인문학
사회과학
사회과학 일반 경영학 관광학 교육학 군사학 문헌정보학 법학 사회학 신문방송학 심리과학 정치외교학 지리학 행정학 경제학 무역학 인류학 기타 사회과학
자연과학
자연과학 일반 물리학 생물학 생활과학 수학·통계학 천문학 지구과학 화학 기타 자연과학
공학
공학 일반 건축공학 기계공학 산업공학 재료·에너지공학 전기전자공학 조선해양공학 화학공학 컴퓨터학 기타공학
의약학
의학 일반 간호학 수의학 약학 한의학 기초의학 임상의학 기타 의약학
농수해양학
농수해양학 일반 농학 수산학 식품과학 임학 축산학 해상운송학 기타 농수해양학
예술체육학
예술 일반 디자인 미술 미용 사진 음악학 의상 체육 공연매체예술 기타 예술체육학
복합학
학제간연구 과학기술학 뇌인지과학 기술정책 기타 복합학

ENG

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2007년도 춘계학술대회 강연 및 논문 초록집
발행연도
2007.5
수록면
2,317 - 2,322 (6page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
This paper presents a derating design approach for reliability improvement of an aluminum electrolytic capacitor. The capacitor, usually mounted in a printed circuit board, is used to stabilize the circuit. The main failure mechanism of interest is dry-up of the electrolyte that is mainly caused by two stresses-temperature and voltage. The lifetime under these stresses is modeled as a function of these stresses and time using accelerated life testing. Quantitative variation in the lifetime, according to variations in these stresses, is investigated to perform the derating design of the capacitor so that the stress levels are selected to achieve required reliability measures for reliability improvement. Moreover, sensitivity analysis shows which stress would be a more important factor determining the lifetime.
#Derating design(부하경감 설계) #Accelerated degradation Test(가속열화시험) #B₁₀ life(B₁₀ 수명) #Dry up(드라이업) #Sensitivity Analysis(민감도 분석)

목차

Abstract
1. 서론
2. 부하경감설계(Derating Design)
3. 알루미늄 전해 커패시터의 고장분석
4. 가속열화시험
5. 결론
후기
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청
참고문헌이 DBpia에서 서비스 중이라면, [참고문헌 신청]을 통해 등록해보세요

함께 읽어보면 좋을 논문

논문 유사도에 따라 DBpia 가 추천하는 논문입니다. 함께 보면 좋을 연관 논문을 확인해보세요!

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

시스템 신뢰성 향상을 위한 확률적 부하경감설계
손영갑 대한기계학회 논문집 A권 2010 .06
전자장비 신뢰도 향상을 위한 정량적 접근 연구
김주년 ,  김보관 한국항공우주학회지 2007 .03
전자부품 고장모드를 고려한 Built-In-Test 성능분석
서준호 ,  고진영 ,  박한준 한국항공우주학회지 2015 .05

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2009-550-016788252