전단간섭계를 이용한 면외변형의 정량적 계측

장호섭; 정성욱; 김경석; 정현철

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자료유형: 학술저널

저자정보: 장호섭 정성욱 김경석 정현철

저널정보: Korean Society for Precision Engineering Journal of the Korean Society for Precision Engineering 한국정밀공학회지 Vol.24 No.4

발행연도: 2007.4

수록면: 131 - 137 (7page)

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Electronic Speckle Pattern Interferometry(ESPI) is a common method for measuring out-of-plane deformation and in-plane deformation and applied for vibration analysis and strain/stress analysis. However, ESPI is sensitive to environmental disturbance, which provide the limitation of industrial application. On the other hand, Shearography based on shearing interferometer which is insensitive to vibration disturbance can directly measure the first derivative of out-of-plane deformation. In this paper a technique that extract out-of-plane deformation from results of shearography by numerical processing is proposed and measurement results of ESPI and Shearoraphy are compared quantitatively.

#Electronic Speckle Pattern Interfrometry(전자처리 스페클 간섭법, ESPI) #Shearography(전단간섭계) #Out-of-plane deformation(면외변형) #Shearing(전단) #gradient(구배)

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