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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第44卷 第11號
발행연도
2007.11
수록면
82 - 88 (7page)

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본 논문에서는 패턴 비교를 통해 고장 대상 후보를 줄이는 알고리즘을 제안한다. 고장 대상 후보의 개수는 고장 진단을 위한 고장 시뮬레이션 시간을 결정한다. 그렇기 때문에 전체 고장 진단 시간을 줄이기 위해서는 고장 대상 수를 줄이는 것이 필수적이다. 임계 경로 추적은 회로의 최종 출력에서부터 시작해 후방 추적을 통해 고장 대상 후보를 결정한다. 제안하는 알고리즘은 이러한 임계 경로 추적을 하는 동안에 고장이 발견되지 않은 패턴에서와 고장이 발견된 패턴에서의 논리 값을 비교하여 고장 대상 후보를 줄이는 알고리즘이다. 고장 진단을 하는데 있어서 고장 대상 후보를 줄이는 것은 전체 고장 진단 시간에 있어 가장 큰 부분을 차지한다. 때문에 제안하는 알고리즘은 기존의 후방 추적을 이용한 방식보다 고장 진단 시 매우 빠른 성능을 보인다. 또한 조합회로와 순차회로의 모든 경우에 적용이 가능하다. 본 논문에서는 ISCAS'85회로와 ISCAS'89의 회로들을 가지고 실험을 하여 기존의 고장 진단 방식의 경우보다 얼마나 성능이 좋아졌는지 보이도록 하겠다.
#Diagnosis #Critical path tracing #Fault simulation #Pattern comparison #Candidate

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 고장 진단 방식
Ⅲ. 제안하는 패턴 비교 알고리즘
Ⅳ. 성능평가
Ⅴ. 결론
참고문헌
저자소개

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, 1990 , Diagnosing CMOS Bridging Faults with Stuck-At-Fault Dictionaries : 860 ~ 870 google schola , 2005 , An Efficient matching Algorithm using the Number of Primary Outputs for Fault Diagnosis : 295 ~ 298 google schola , 2005 , An Effective fault diagnosis using critical path tracing : 8 ~ 12 google schola , 1991 , Coupling Electron-Beam Probing with Knowledge-Based Fault Localization : 238 ~ 247 google schola , 1997 , On Dictionary- Based Fault Location in Digital Logic Circuits : 48 ~ 59 google schola

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