특징형상 기반의 OMM 측정계획 시스템

최진화; 전병철; 조명우

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 최진화 전병철 조명우

저널정보: 한국생산제조학회 한국생산제조학회 학술발표대회 논문집 한국공작기계학회 2005 추계학술대회 논문집

발행연도: 2005.10

수록면: 81 - 86 (6page)

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A feature-based inspection planning system for On-Machine Measurement (OMM) is proposed to inspect the complicated mechanical parts efficiently during machining or after machining. The inspection planning consists of Global Inspection Planning (GIP) and Local Inspection Planning (LIP). In the GIP stage of the proposed strategy, the system creates an optimum inspection sequence of the features in a part. In the LIP stage, the system generates inspection parameters such as the suitable number of measuring points, their locations, and the optimum probing paths for each feature. The results are simulated and analyzed to verify the effectiveness of the proposed methods.

#기상측정(OMM, On-Machine Measurement) #거시적 측정계획(GIP, Global Inspection Planning) #단위형상 측정계획(LIP, Local Inspection Planning)

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