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전력전자학회 전력전자학회 학술대회 논문집 전력전자학회 2008년도 학술대회 논문집
발행연도
2008.6
수록면
649 - 653 (5page)

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본 논문은 HVDC 시스템 밸브의 사이리스터 소자와 스너버 회로의 소손에 대한 원인분석 내용을 다루고 있다. 사이리스터는 다른 반도체 소자와 다르게 오랜 기간 안정성이 규명된 소자로써 대용량 전력설비에 사용되고 있으며, 반도체 기술의 발달에 따라 점차적으로 용량이 커진 소자가 개발되고 있다. 이러한 사이리스터가 대용량 HVDC시스템에 조립되어 운전되고 있는 경우에 사이리스터의 고장원인을 심층적으로 분석하여 고장원인을 분석한 것이 본 논문의 핵심이다.

목차

요약
1. 서론
2. 선행 지식
3. 사이리스터 고장 분석
4. 결론
참고문헌

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