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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
백영현 문성룡
저널정보
한국지능시스템학회 한국지능시스템학회 논문지 퍼지 및 지능 시스템학회 논문지 제14권 제4호
발행연도
2004.7
수록면
473 - 480 (8page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2004

컬러 영상 에지 검출을 위한 적응 형태학적 WCNN 알고리즘
백영현 ,  문성룡 한국지능시스템학회 논문지 2004.07 학술저널
적응 형태학적 WCNN 알고리즘을 이용한 컬러 영상 에지 검출 연구
백영현 ,  신성 ,  문성룡 한국지능시스템학회 학술발표 논문집 2004.04 학술대회자료

초록· 키워드

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본 논문에서는 컬러 영상에서의 새로운 에지 검출 알고리즘을 제안한다. 제안된 적응 형태학적 WCNN알고리즘은 적응 형태학과 WCNN알고리즘으로 구성된다. 이는 입력된 컬러 영상의 임계값에 따라 적응 형택학을 이용하여 경계면의 차를 레벨업시킨 후 WCNN 알고리즘을 이용하여 최적의 에지를 검출한다. 또한, 기존의 고정 마스크에지 검출방식을 탈피하여, 영상의 임계값의 차에 따라 가변적으로 변화하는 가변 BBM(Beak Y. H, Byun O. H, Moon S. R)마스크를 사용한다. 제안된 알고리즘의 기존의 연구에 비해 유용성을 검증하기 위해 본 논문은 30개의 컬러 영상의 모의 실험을 제공한다.
#morphology #CNN #wavelet #edge #threshold #color image

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. 공간 컬러 모델과 에지 검출 알고리즘
3. 형태학 및 웨이브렛 알고리즘
4. 가변 BBM과 적응적 형태학 WCNN을 이용한 컬러 에지 검출
5. 모의 실험
6. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (13)

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